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全自动Χ光沉降粒度分析仪
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产品型号:
SediGraph III 5120
产品报价:
产品特点:
新一代的粒度分析仪将成熟的SediGraph分析技术与先进的检测仪器功能相结合,提供卓越的重复性、准确性和重现性。 SediGraph III通过X射线吸收测量样品质量,利用国际标准的沉降法测量粒度,无需建模。该产品的技术已成为全球造纸、陶瓷、磨料等数个行业的金色标准。
  SediGraph III 5120全自动Χ光沉降粒度分析仪的详细资料:

 


SediGraph®Ⅲ Plus

全自动X光沉降粒度分析仪

       SediGraph使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降,即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下,报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。

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久经考验的技术和可靠性

       在过去的三十多年中,麦克仪器公司的SediGraph是全世界许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室,SediGraph凭借其卓越的可靠性得出精确的测量结果。粒径分布的测量采用沉降法,颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律,通过测量粒子在液体中的沉降速率,得出粒子粒径大小,粒径分析范围为0.1~300μm。

 

智能设计特色

SediGraph III Plus 粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易,日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品,在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性极高的结果。

• 高精度X光管终身保修(7年)

• 简化泵系统,确保快速分析和易于维护

• 降低噪声,提供更加安静的工作环境

• 维护提醒装置,根据总测试量,提示用户进行定期维护

• 电脑控制混合室温度,提高测试可重复性

• Windows操作软件,以太网连接,可进行点击式选择菜单,联网工作,打印机选择,剪切和粘贴等操作

• 多功能和交互式报告系统,能够提供多种类型的报告,例如颗粒沉降速度和粒度(以Phi为单位)

多项功能

  • 完整的颗粒分析,能够确保对样品中的所有颗粒全部进行分析,包括粒径大于 300μm和小于0.1μm的部分
  • 能够与其他粒径测得的数据相结合,使数据报告范围可扩展至125,000μm (125mm),在地质学方面具有很好的应用
  • 自下而上地扫描沉降室,能够准确的获取沉降颗粒的总数,同时最小化颗粒分离所需的时间
  • 全自动操作模式能够增加分析样品总数,并且能够减少人为操作步骤,以降低由人为操作造成的测量误差
  • 控温分析可确保在整个分析过程中液体的性质不发生任何变化,以获取精确的分析结果
  • 多种分析速度,可根据实际需要选择所需的速度和分辨率
  • 实时显示,能够监控当前分析的累积质量图,以便根据需求立即修正分析程序
  • 统计过程控制(SPC)报告能够跟踪过程性能,便于立即对变化做出响应
  • 多图叠加功能,能够对分析结果进行可视化比较,例如:与参考样品或基线叠加,或者将同一分析数据的两种不同类型结果图叠加
  • 数据比较图,能够提供两套数据组(不同于参考图)图形显示的数学差或某个数据点高于/低于误差范围的程度(指定图以外)
  • 能够使用同一台计算机同时控制两SediGraph,节约宝贵的实验室空间,方便数据存储
 
  

产品相关关键字: X光沉降 粒度分析;沉降粒度分析仪
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